TPP-01,Short Test Pin Probe
TPP-01: Short Test Pin Probe 试验短销,符合IEC, EN, UL and CSA标准,(品牌:美国.ED&D)
| ACCESSIBILITY PROBES 试验探针 |
| FOR TESTING THE PROTECTION AGAINST ACCESS TO HAZARDOUS PARTS
Model TPP-01: Short Test Pin Probe 试验短销
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Used to test accessibility through enclosure openings per IEC, EN, UL and CSA Standards. Body is Delrin, tip is stainless steel.
NOTE: Don’t ever purchase an all plastic version - the tip is too narrow to maintain tip rigidity!
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美国.ED&D产品服务于:IBM ，美国航空暨太空总署，英代尔，苹果， NCR ，索尼公司，太阳，飞利浦公司，思科， AT&T ， Compaq ， JVC ， Hewlett-Packard ，摩托罗拉， Mattel ，戴尔,3 Com 等公司;专为UL ， CSA ， ETL ， TUV,Demko等试验室提供检测产品.
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