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产品名称:

SP-01,Scratch Pin Probe 乱写探针


产品型号: SP-01,Scratch Pin Probe 乱写探针
产品展商: 珠海科尔迈测试设备有限公司
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简单介绍
SP-01,Scratch Pin Probe 乱写探针,基于IEC标准,适用表面绝缘层的磨擦试验,品牌:美国.ED&D


SP-01,Scratch Pin Probe 乱写探针的详细介绍

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SP-01,Scratch Pin Probe 乱写探针
Used to test resistance to abrasion on insulating materials and conformal coatings. Hardened steel pin, the end is a cone having a top angle of 40 degrees, tip is rounded with a radius of 0.25 ± 0.02 mm. Complies with many Standards, including IEC based Standards. Entire scratch test apparatus available.

美国.ED&D产品服务于:IBM ，美国航空暨太空总署，英代尔，苹果， NCR ，索尼公司，太阳，飞利浦公司，思科， AT&T ， Compaq ， JVC ， Hewlett-Packard ，摩托罗拉， Mattel ，戴尔,3 Com 等公司;专为UL ， CSA ， ETL ， TUV,Demko等试验室提供检测产品.



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At ED&D, we pride ourselves in the companies we serve….IBM, NASA, Intel, Apple, NCR, Sony, Sun, Philips, Cisco, AT&T, Compaq, JVC, Hewlett-Packard, Motorola, Mattel, Dell, 3Com you name it! And if that's not good enough, how about every major test lab in the world: UL, CSA, ETL, TUV, MET, Demko, etc.
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